吉林大学学报(信息科学版) ›› 2021, Vol. 39 ›› Issue (3): 318-323.
孙圣现a,b , 陈柏松a,b , 李雨轩a,b , 李盈祉a,b , 张蓝萱a,b , 陶 敏a,b , 宋俊峰a,b
SUN Shengxiana,b , CHEN Bosonga,b , LI Yuxuana,b , LI Yingzhia,b , ZHANG Lanxuana,b , TAO Mina,b , SONG Junfenga,b
摘要: 为解决脊型波导相位调制的有效折射率测量问题, 提出一种 3 端口 MZI(Mach-Zehnder Interferometer)结构, 能定量测量并分析 PN 结(Positive-Negative junction)脊型硅光波导中, 有效折射率的实部和虚部受偏置电压调制的相对变化, 并给出多项式拟合方程。 实验所得结果与拟合结果非常符合, 最终可以得到脊型波导在相位调制过程中的特性。 该测量方法简单易行, 可应用于硅基光电子集成芯片当中, 作为载流子调制特性定量检测器件。
中图分类号: