顾广瑞1,2, 李英爱1, 刘艳梅3, 陶艳春4 , 何 志1, 殷 红1, 李卫青1, 冯伟1, 白玉白3, 田 野5, 赵永年1,4
GU Guang-rui1,2, LI Ying-ai1, LIU Yan-mei3 , TAO Yan-chun4, HE Zhi1, YIN Hong1,LI Wei-qing1, FENG Wei1, BAI Yu-bai3, TIAN Ye5, ZHAO Yong-nian1,4
摘要: 利用射频磁控溅射方法, 在n型(100)Si基底上沉积了不同厚度(54~124 nm)的纳米氮化硼(BN)薄膜. 红外光谱分析表明, BN薄膜结构为六角BN(h-BN)相(1 380 cm-1和780 cm-1)结构. 在超高真空系统中测量了不 同膜厚的场发射特性, 发现阈值电压随着厚度的增加而增大. 厚度为54 nm的BN薄膜样品阈 值电场为10 V/μm, 当外加电场为23 V/μm时, 最高发射电流为240 μA/cm2. BN薄膜场发射F-N曲线表明, 在外加电场作用下, 电子隧穿了BN薄膜表面势垒发射到真空.
中图分类号: