石英学, 王雪丹, 石家纬, 李靖, 郭树旭
SHI Ying-xue, WANG Xue-dan, SHI Jia-wei, LI Jing, GUO Shu-xu
摘要: 对高功率量子阱半导体激光器的爆破噪声和可能来自相 同缺陷源的产生复合噪声(g-r噪声)进行了研究. 实验结果表明, 如果老化电流远高于阈 值电流Ith, 爆破噪声和g-r噪声将会被引入, 甚至会出现多重g-r噪声. 通过 对比样品老化前后光电导数的特征参量发现, 老化后产生爆破噪声和g-r噪声的器件为失效 器件, 表明高功率量子阱半导体激光器在使用和老化过程中有时会伴有爆破噪声和g-r噪声 . 通过缺陷能级理论和p-n结势垒高度变化, 讨论了爆破噪声、 g-r噪声及多重g-r噪声 产生的原因.
中图分类号: