用蒙特卡罗方法研究双层重金属与有机半导体界面的X射线剂量增强

用蒙特卡罗方法研究双层重金属与有机半导体界面的X射线剂量增强

董文斌, 赵广义, 赵宝奎, 周银行, 马玉刚

吉林大学物理学院, 长春 130021

收稿日期:2007-05-26 修回日期:1900-01-01 出版日期:2008-05-26 发布日期:2008-05-26
通讯作者: 赵广义

Monte\|Carlo Calculation of X\|ray Dose\|enhancement\|factor Nearby Copper-phthalocyanine Connected Two High Z Metal Interface

DONG Wen bin, ZHAO Guang yi, ZHAO Bao kui, ZHOU Yin hang, MA Yu gang

College of Physics, Jilin University, Changchun 130021, China

Received:2007-05-26 Revised:1900-01-01 Online:2008-05-26 Published:2008-05-26
Contact: ZHAO Guang yi

摘要/Abstract

摘要： 用蒙特卡罗方法计算不同几何结构的双层重金属对有机半导体界面产生的剂量增强系数, 结果表明, X射线在金-酞菁铜-金界面产生与金-酞菁铜界面相似但更大的剂量增强. 当半导体层-酞菁铜厚度相同（均为2 μm）时, 厚度为4 μm比厚度为2 μm的金产生更大的剂量增强; 当金的厚度相同（均为2 μm）时, 厚度为1 μm比厚度为2 μm的酞菁铜产生更大的剂量增强. 

关键词: X射线, 有机半导体, 剂量增强系数, 界面

Abstract: The dose-enhancement-factors of different structure Au-CuPc-Au were calculated by Monte-Carlo method. The results show the dose-enhancement-factors of Au-CuPc-Au are simailer to that of Au-CuPc, but it has larger dose-enhancement-factors than those of Au-CuPc. Under the circumstance （the thickness of CuPc is 2 μm）, the dose-enhancement-factor of 4 μm gold is larger than that of 2 μm gold. Under the circumstance （the thickness of gold is 2 μm）, the dose-enhancement-factor of 1 μm CuPc is larger than that of 2 μm CuPc.

Key words: X-ray, organic semiconductor, dose-enhancement-factor, interface

中图分类号:

O434.1

董文斌, 赵广义, 赵宝奎, 周银行, 马玉刚. 用蒙特卡罗方法研究双层重金属与有机半导体界面的X射线剂量增强[J]. J4, 2008, 46(03): 524-527.

DONG Wen bin, ZHAO Guang yi, ZHAO Bao kui, ZHOU Yin hang, MA Yu gang. Monte\|Carlo Calculation of X\|ray Dose\|enhancement\|factor Nearby Copper-phthalocyanine Connected Two High Z Metal Interface[J]. J4, 2008, 46(03): 524-527.

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