摘要:
采用电沉积法, 在[EMIm]Tf2N离子液体中选取恒电位制备SiGe膜. 为考察SiGe在工作电极表面的反应特性, 在[EMIm]Tf2N离子液体中测试不同扫描速率下的循环伏安(CV)曲线, 并利用扫描电镜和能谱分析研究SiGe膜的表面形貌和组分. 结果表明, [EMIm]Tf2N离子液体中SiGe的共沉积是受扩散控制的非可逆电极过程; 在该离子液体中, SiGe共沉积的平均阴极传递系数α=0.175, 扩散系数D0=6.64×10-7m/s.
中图分类号:
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