摘要: 采用p型同轴高纯锗探测器测量含226Ra的荧光仪表盘与标准源133Ba的衰变γ能谱, 并分析特征γ射线的能量和强度. 结果表明:226Ra能谱中出现226Ra的特征γ射线及大量226Ra的衰变子核的特征γ射线;133Ba谱中出现133Ba特征射线及大量和峰, 由计数率随距离变化关系及γ射线级联关系证明存在和峰.
中图分类号:
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