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微量Ni掺杂对铜锌锡硫硒薄膜电学性能的影响
何小龙, 米亚金, 白露露, 杨艳春
Effect of Trace Ni-Doping on Electrical Properties of Cu
2
ZnSn(S,Se)
4
Thin Films
HE Xiaolong, MI Yajin, BAI Lulu, YANG Yanchun
吉林大学学报(理学版) . 2026, (
3
): 684 -0690 .