吉林大学学报(理学版) ›› 2024, Vol. 62 ›› Issue (2): 437-0443.
门彩瑞1, 邵立1, 何渊淘2, 李艳1, 耶红刚3
MEN Cairui1, SHAO Li1, HE Yuantao2, LI Yan1, YE Honggang3
摘要: 采用基于密度泛函理论的第一性原理赝势平面波方法对H,F,Al,K,Zn掺杂二维MgCl2单层材料的几何结构和电子性质进行研究. 结果表明: 几种掺杂体系的晶体结构均有不同程度变化; 由于H,Al,Zn的s态电子影响, 这3种元素掺杂的MgCl2在禁带中明显出现杂质能级, F和K掺杂体系的杂质能级出现在价带顶, 与本征MgCl2材料的5.996 eV带隙相比, H,F,Al,K,Zn掺杂体系的禁带宽度分别减小至5.665,5.903,4.409,5.802,5.199 eV; 5种掺杂体系杂质原子周围的电荷均重新分布; 电荷转移情况与差分电荷密度结果一致; 与本征MgCl2的功函数8.250 eV相比, H,F,Al,K,Zn掺杂体系的功函数分别减小至7.629,7.990,3.597,7.685,7.784 eV.
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