基于任务剖面关键度划分的嵌入式软件可靠性增长模型

吉林大学学报(工学版)

基于任务剖面关键度划分的嵌入式
软件可靠性增长模型

王金波^1，2，赵光恒¹，陈蔚薇¹

1.中国科学院光电研究院，北京 100080; 2.中国科学院研究生院，北京 100080

收稿日期:2007-09-07 修回日期:1900-01-01 出版日期:2009-03-01 发布日期:2009-03-01
通讯作者: 赵光恒

Software reliability growth model based on criticality partition of
functional profile for embedded software

WANG Jin-bo^1，2, ZHAO Guang-heng¹, CHEN Wei-wei¹

1.Academy of OptoElectronic, Chinese Academy of Sciences, Beijing 100080,China; 2.Graduate School of the Chinese Academy of Sciences, Beijing 100080, China

Received:2007-09-07 Revised:1900-01-01 Online:2009-03-01 Published:2009-03-01
Contact: ZHAO Guang-heng

摘要/Abstract

摘要： 以任务剖面的关键度划分为出发点，考虑测试的有效性，建立一种随测试覆盖率变化的嵌入式软件可靠性增长模型，改变了以往模型中可靠性提高单纯依靠测试时间增长以及可靠度结果虚高等不足。提出在测试成本一定的情况下对软件进行可靠性增长测试时，关键度较高的任务剖面应该获得较多的测试工作投入，即获得较高的测试覆盖率。

关键词: 计算机软件, 软件可靠性, 对数模型, 测试剖面, 测试覆盖率, 关键度, 可靠性增长模型

Abstract: Starting with the criticality partition of functional profiles (FPs) and considering the testeffectiveness, a new software reliability growth model suitable for embedded software is proposed based on the logarithmic model. This model takes the costconstraint into consideration in software reliability growth test. It gives higher test coverage to the FPs with higher criticality. Compared with existing models this growth model has two features. First, it does no longer take time as the only variable to increase the reliability; second, it can rectify the precision of the model.

Key words: computer software, software reliability, logarithmic model, test profile, test coverage, criticality, reliabilitygrowth model

中图分类号:

TP311.5

王金波，赵光恒，陈蔚薇 . 基于任务剖面关键度划分的嵌入式
软件可靠性增长模型
[J]. 吉林大学学报(工学版), 2009, 39(02): 436-0439.

WANG Jin-bo, ZHAO Guang-heng, CHEN Wei-wei . Software reliability growth model based on criticality partition of
functional profile for embedded software
[J]. 吉林大学学报(工学版), 2009, 39(02): 436-0439.

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