吉林大学学报(工学版) ›› 2004, Vol. ›› Issue (1): 12-15.

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VLSI电路噪声特性检测阈值的分析及决策

钱志鸿, 周求湛, 魏小丽   

  1. 吉林大学, 通信工程学院, 吉林, 长春, 130025
  • 收稿日期:2003-06-23 出版日期:2004-01-01
  • 基金资助:
    国家自然科学基金资助项目(69672023);吉林省科技发展计划基金资助项目(20010582);吉林大学创新基金资助项目.

Analysis and strategic of decision threshold for VLSI circuits noise characteristics

QIAN Zhi-hong, ZHOU Qiu-zhan, WEI Xiao-li   

  1. College of Communication Engineering, Jilin University, Changchun 130025, China
  • Received:2003-06-23 Online:2004-01-01

摘要: 给出了利用阈值选取和决策对VLSI电路噪声特性进行检测的方法。利用信号多分辨分解噪声模型算法进行系统参数分析,简洁且精确。实验表明:非平稳噪声在时域中是可以识别的,与传统的噪声频域检测方法相比,分辨率有明显的改善。非平稳噪声的小波域实时检测方法具有自适应能力强、对信号先验知识依赖少、能够进行完全重构、可较好地保留待测信号的波形信息、有效提高信噪比等优点。这一研究将为VLSI电路器件的严格筛选、故障诊断及定位、VLSI电路的可靠性研究提供新的理论依据和检测方法。

关键词: 超大规模集成电路, 噪声特性, 检测, 阈值

Abstract: A method for threshold selection and decision to obtain noise characteristics in VLSI circuits was presented.This method by using multiresolution signal decomposition noise model made the analysis of system parameters easy and accurate.Simulation results show that non-stationary noise can be identified in time domain and resolution improvement is obvious compared with that of conventional noise detection in frequency domain.And in particular,real time non-stationary noise detection in wavelet domain possesses strong adaptability,needs less priori information,realizes complete reconstruction,keeps waveform information of the original signals,and improves SNR,etc.This study offers a theoretical basis and noise detection method for VLSI circuit components selection,faults diagnosis and localization,and reliability analysis.

Key words: VLSI, noise characteristics, detection, threshold

中图分类号: 

  • TN911
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